Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости
| dc.contributor.author | Ковальов, Леонід Євгенійович | |
| dc.date.accessioned | 2016-11-05T14:33:53Z | |
| dc.date.accessioned | 2026-11-02T14:27:12Z | |
| dc.date.available | 2016-11-05T14:33:53Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.description.abstract | Методом вторично-ионной масс-спектроскопии был исследован примесный состав высокоомных кристаллов селенида цинка с фоновыми примесями. Предложен способ проведения масс-спектроскопического анализа высокоомных образцов. Проведённое исследование косвенно подтверждает гипотезу про то, что ответственным за возникновение всплеска фототока и явления «спектральной памяти» фотопроводимости ZnSe является примесь железа, неравномерно распределённая по объёму кристалла. | uk_UA |
| dc.identifier.citation | Беленчук А.В., Ильиных Н.И., Ковалёв Л.Е. Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости // Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59. № 10. С. 174-175. | uk_UA |
| dc.identifier.issn | 0021-3411 | |
| dc.identifier.uri | https://dspace.unu.edu.ua/handle/123456789/6575 | |
| dc.language.iso | ru_RU | uk_UA |
| dc.publisher | Национальный исследовательский Томский государственный университет | uk_UA |
| dc.subject | селенид цинка | uk_UA |
| dc.subject | фотопроводимость | uk_UA |
| dc.subject | масс-спектроскопия | uk_UA |
| dc.title | Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости | uk_UA |
| dc.type | Стаття | uk_UA |
| old.handle | 123456789/4364 | |
| old.id | 5c147433-4264-4415-a722-4c10d418716a | |
| old.sourceSite | lib.udau.edu.ua |