Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости
Loading...
Date
Authors
Journal Title
Journal ISSN
Volume Title
Publisher
Национальный исследовательский Томский государственный университет
DOI
Abstract
Методом вторично-ионной масс-спектроскопии был исследован примесный состав высокоомных кристаллов селенида цинка с фоновыми примесями. Предложен способ проведения масс-спектроскопического анализа высокоомных образцов. Проведённое исследование косвенно подтверждает гипотезу про то, что ответственным за возникновение всплеска фототока и явления «спектральной памяти» фотопроводимости ZnSe является примесь железа, неравномерно распределённая по объёму кристалла.
Description
Keywords
Citation
Беленчук А.В., Ильиных Н.И., Ковалёв Л.Е. Вторично-ионная масс-спектроскопия кристаллов селенида цинка со спектральной памятью фотопроводимости // Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59. № 10. С. 174-175.